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芯片尺寸检测系统方案 ---晶新科技
编辑: 发布日期:2017-05-31
            芯片尺寸检测系统方案 ---晶新科技
深圳市晶新科技2015年研发的关于芯片尺寸检测,取得了重大的科技创新。
如下详解:
一:芯片尺寸检测系统描述
芯片尺寸检测系统对芯片的各部分位置尺寸进行检测。芯片尺寸检测系统简单设定后,即可自动检测、计算,如有异常发生,可提示报警或者控制机器停机。对不符合要求的工件检测后可输出NG信号。
二 :芯片尺寸检测系统描述主要功能:
  1. 检测芯片的尺寸                     
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       2.输出每个检测项的数值;
       3.可选择检测项;
       4.连续作业,自动判别;
       5.检测精度可调;
       6.视觉检测速度200ms/pcs;
       7.将检测到的数据存入EXCLE档中,保存统计数据方便数据处理和打印,并可对NG产品的图像进行保存方便查看;
       8.系统有自学习功能,且学习过程操作简单;
       9.系统界面上提示报警灯,出现NG产品报警灯提示;
      10.系统界面上提示脚长不合格的pin脚位;
  3. 三:芯片尺寸检测系统主要技术特点
    1. 操作界面清晰明了,简单易行,只需简单设定即可自动实行测量;
    2. 测量App及算法完全自主开发,系统针对性强;
    3. 可灵活设置检测模板、检测范围;可选择局部检测功能,提高测量速度;
    4. 专业化光源设计,成像清晰均匀,确保测量任务完成;
    5. 支撑多种型号产品的测量、具备产品在线自动搜索等功能;
    6. 采用高速工业相机,适用于静态或动态生产线检测;
    7. 安装简单,不影响原生产线工作;结构紧凑,易于操作、维护和扩充;可靠性高,运行稳定,适合各种现场运行条件;
    8. 基于PC平台,系统可扩充性强,基于EF-VS机器视觉App平台可扩展其他功能。

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